2011中國國際物聯網大會暨展覽會6月再聚上海
覆蓋物聯網全產業(yè)鏈 迎接智慧互聯新時代
2011/03/02
CTI論壇(ctiforum)3月2日消息(記者 潘婷婷): “2011中國國際物聯網大會暨展覽會”將于2011年6月16日至17日在上海環(huán)球金融中心-會議中心和上海國際會議中心舉行。本次國際物聯網行業(yè)盛會由中國國際貿易促進委員會上海市分會主辦,上海市國際展覽有限公司承辦。會議得到全球 AUTO-ID LABS 的大力支持,旗下7個國家實驗室(美國麻省理工學院 Auto-ID 中心、英國劍橋大學 AUTO –ID 實驗室、瑞士圣加倫大學 AUTO –ID 實驗室、日本慶應義塾大學 AUTO –ID 實驗室、中國復旦大學 AUTO-ID 實驗室、澳大利亞的阿德萊德大學)代表悉數參與演講,展覽會由中國電子商會物聯網產品應用專業(yè)委員會協(xié)辦。CTI論壇報道
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